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產(chǎn)品名稱：
手持式局部放電檢測儀
廠商性質(zhì)： 生產(chǎn)廠家產(chǎn)品時間： 2024-11-18手持式局部放電檢測儀，設(shè)計用于檢測中高壓（MV/HV）設(shè)備中的局部放電源，放電源往往具有潛伏期，且絕緣性能也可能會由于局部放電以外的其它原因而失效。
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 勝緒電氣 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,農(nóng)業(yè),建材 |
產(chǎn)品概述：
手持式局部放電檢測儀，設(shè)計用于檢測中高壓（MV/HV）設(shè)備中的局部放電源，放電源往往具有潛伏期，絕緣性能也可能會由于局部放電以外的其它原因而失效。如果沒有檢測到放電，不一定就意味著設(shè)備無放電活動。如果檢測并判斷出到與中高壓電力系統(tǒng)相連的設(shè)備中有相當(dāng)大的放電，則應(yīng)該立即通知對設(shè)備負(fù)責(zé)單位。
操作環(huán)境要求:
當(dāng)使用手持式局部放電檢測儀的TEV 測量模式時，必須遵守以下幾點(diǎn)：
(1) 在空間窄小的角落中工作時，必須小心謹(jǐn)慎，因?yàn)榕R近其它的接地體30cm或以下會影響讀數(shù)的精度。
(2) 從高頻無線通訊工具shou機(jī)、RF 發(fā)射機(jī)、視頻顯示器以及無屏蔽的高頻電子器件產(chǎn)生的直流至 1 GHz 頻率范圍內(nèi)的強(qiáng)烈電磁干擾可以影響讀數(shù)。將多功能局部放電檢測儀放在自然空氣中離開任何導(dǎo)電表面至少1米處就可以測量本地電磁場。
注:TEV模式即選擇地電壓測量模式; 超聲波模式即選擇超聲波測量模式
產(chǎn)品別稱：
多功能局部放電在線檢測儀,局部放電測試儀,局部放電測量儀，局部放電測試系統(tǒng)
常用的名詞術(shù)語：
（1）局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極）。
（2）電荷量q
在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。
（3）視在放電量校準(zhǔn)器
視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng)，此時調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗(yàn)時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。
（4）檢測阻抗
檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
（5）時間窗(門單元)
時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時，尤其是在現(xiàn)場做試驗(yàn)時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、配有功能自檢器。該附件的目的是要在對開關(guān)柜等電氣設(shè)備進(jìn)行測量之前，先驗(yàn)證是否處于可正常工作的狀態(tài)，并不是用來校準(zhǔn)儀器。
2、局部放電檢測儀功能自檢器依賴于上的充電接口輸出的模擬TEV與超聲波固定幅度的信號源激勵工作。
3、為了檢查是否工作正常，可以在儀器開機(jī)的狀態(tài)下將功能自檢器插入儀器的充電接口中，并分別選擇 TEV 或超聲波模式。使功能檢查器貼近接觸的內(nèi)置TEV傳感器及超聲波傳感器。隨著功能檢查器距離板面 越來越近，讀數(shù)會隨之相應(yīng)增加，。驗(yàn)證儀器在 TEV 模式以及超聲波模式下測量的情形。
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